BS ISO 17470-2004 微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 19:33:05  浏览:9842   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Microbeamanalysis-Electronprobemicroanalysis-GuidelinesforqualitativepointanalysisbywavelengthdispersiveX-rayspectrometry
【原文标准名称】:微电子束分析.电子探测微观分析.用波长色散X射线光谱测定法定性点分析指南
【标准号】:BSISO17470-2004
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2004-09-29
【实施或试行日期】:2004-09-29
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:
【英文主题词】:Analysis;Analysismethods;Definition;Definitions;Electronbeams;Methodsofanalysis;Microanalysis;Wavelengthdispersive;X-rayspectrometry
【摘要】:ThisInternationalStandardgivesguidancefortheidentificationofelementsandtheinvestigationofthepresenceofspecificelementswithinaspecificvolume(onaμm3scale)containedinaspecimen,byanalysingX-rayspectraobtainedusingwavelengthdispersiveX-rayspectrometersonanelectronprobemicroanalyseroronascanningelectronmicroscope.
【中国标准分类号】:N33
【国际标准分类号】:71_040_50
【页数】:20P;A4
【正文语种】:英语