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NF C74-120-1995 X射线诊断设备.测定特性的放射条件

作者:标准资料网 时间:2024-05-20 04:40:32  浏览:8518   来源:标准资料网
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【英文标准名称】:MedicaldiagnosticX-rayequipment.Radiationconditionsforuseinthedeterminationofcharacteristics.
【原文标准名称】:X射线诊断设备.测定特性的放射条件
【标准号】:NFC74-120-1995
【标准状态】:现行
【国别】:法国
【发布日期】:1995-04-01
【实施或试行日期】:1995-04-05
【发布单位】:法国标准化协会(FR-AFNOR)
【起草单位】:
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:X射线仪;X射线设备;医疗放射照相术;医学科学;;光线疗法;诊断设备;辐射学;测定;医疗设备;辐射防护;电医学;医疗技术学;辐射;特性
【英文主题词】:Characteristics;Determination;Diagnosis;Diagnosticequipment;Electricalengineering;Electromedicine;Irradiationcondition;Medicalequipment;Medicalradiography;Medicalsciences;Medicaltechnology;Phototherapy;Radiation;Radiationprotection;Radiology;X-rayapparatus;X-rayequipment;X-rayplants;X-rays
【摘要】:
【中国标准分类号】:C43
【国际标准分类号】:11_040_50
【页数】:36P.;A4
【正文语种】:英语


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基本信息
标准名称:硅片表面平整度测试方法
英文名称:Testing methods for surface flatness of silicon slices
中标分类: 冶金 >> 半金属与半导体材料 >> 半金属与半导体材料综合
ICS分类: 电气工程 >> 半导体材料
替代情况:替代GB/T 6621-1995
发布部门:中华人民共和国国家质量监督检验检疫总局 中国国家标准化管理委员会
发布日期:2009-10-30
实施日期:2010-06-01
首发日期:1986-07-26
作废日期:
主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
提出单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会
起草单位:上海合晶硅材料有限公司
起草人:徐新华、严世权、王珍
出版社:中国标准出版社
出版日期:2010-06-01
页数:8页
适用范围

本标准规定了用电容位移传感器测定硅抛光片平整度的方法,切割片、研磨片、腐蚀片也可参考此方法。
本标准适用于测量标准直径76mm、100mm、125mm、150mm、200mm,电阻率不大于200Ω·cm厚度不大于1000μm 的硅抛光片的表面平整度和直观描述硅片表面的轮廓形貌。

前言

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所属分类: 冶金 半金属与半导体材料 半金属与半导体材料综合 电气工程 半导体材料
【英文标准名称】:TestMethodforEffectofAirSupplyonSmokeDensityinFlueGasesfromBurningDistillateFuels
【原文标准名称】:空气供给对燃料馏分燃烧产生的烟道气中烟密度影响的试验方法
【标准号】:ASTMD2157-1980
【标准状态】:作废
【国别】:美国
【发布日期】:1980
【实施或试行日期】:
【发布单位】:美国材料与试验协会(ASTM)
【起草单位】:ASTM
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:润滑剂;含量测定;通气;试验;石油产品;含量;烟;密度;蒸馏
【英文主题词】:aeration;lubricants;density;testing;distillation;petroleumproducts;determinationofcontent;smoke;content
【摘要】:
【中国标准分类号】:E31
【国际标准分类号】:75_160_20
【页数】:2P;A4
【正文语种】:英语